EA6000VX - Рентгено-флуоресцентный спектрометр (Hitachi)

Рентгено-флуоресцентный спектрометр EA6000VX позволяет контролировать опасные вещества по всей поверхности и делать микро точечные измерения в заданной области. Эти задачи не могут быть выполнены с помощью обычных рентгено-флуоресцентных спектрометнов.

Высокоскоростное картирование (Mapping)
Детектор с высокой скоростью счета 150,000 отсчетов/сек при максимальном и большом секторе сканирования полщадью 250мм х 200мм на максимально возможной высокой скорости картирования. В 100 мм х 100 мм отображение области, EA6000VX обнаруживает и локализует свинец, содержащийся в терминале монтажа платы в течение нескольких минут.

Детектор с высокой скоростью счета, не требующий жидкого азота.
Оснащен лучшим в мире детектором в высокой скростью счета (в 15 раз улучшена скорость счета по сравнению с обычной моделью). Рентгено-флуоресцентный спектрометр EA6000VX повышает эффективность измерений. Кроме того, детектор не требует жидкого азота, что безопасно и повышает эффективность работы оператора.

Непрерывные мульти точечные измерения
До 500 точек могут быть заданы и непрерывно измерены с автосамплером. Измерение больших образцов с очень большой пропускной способностью.

Функция высокоточного совмещения (Overlap)
Области, содержащие целевые элементы легко исследуются с помощью высокоточного анализа на большой площади, возможного благодаря  полныму совмещению изображения образца и картированного изображения путем использования телецентрической оптической системы и высокоточного столика позиционирования XY. Всего площадь 250 мм х 200 мм показан на виде сверху, а также позиции точность зумом в от широкого зрения находится в 100um.

Измерения толщины покрытий на микроскопических площадях.
Рентгено-флуоресцентный спектрометр EA6000VX способен измеренять толщины покрытий, что характерно для серии спектрометров SFT, включая измерения толщины ультратонких Au (золотых) пленок покрытий. Анализ опасных элементов, таких как Pb в покрытиях могут быть проведен одновременно с измерением толщины покрытия. Например, возможности включают комплексные измерения вредных веществ в бессвинцовом паяльном покрытии, Sn покрытии рамочных выводов и неэлектролитическом Ni покрытии.

RoHS инспектирование
Включает эффективный и высокочувствительный анализ элементов, ограниченных RoHS, содержащиеся в полимерах и металлах. Возможны измерения сложных материалов в специфических точках.

Измерение легких элементов
С опцией He продувки, рентгено-флуоресцентный спектрометр EA6000VX способен измерять легкие элементы от Na. Его стабильная и уникальная система, которая продувает He только во время измерения снижает эксплуатационные расходы.

Функция прозрачного картирования (See-through Mapping)
Начиная с Pb на внутренних платах, различные картографические изображения элементов могут быть получены без разбирания предметов с неизвестной  внутренней структурой, таких как портативные компьютеры и сотовые телефоны. Сравнивая картографические изображения элементов, полученные путем проникновения рентгеновских лучей, может быть получена различная информация о структуре и внутренних компонентов.

Анализ загрязнений
Благодаря функции высокоскоростного картирования, рентгенофлуоресцентный спектрометр EA6000VX способен обнаруживать и определять местоположение небольших металлических загрязнений размером около десятков микрон в широкой области измерения (максимум 250 мм х 200 мм). Малое или незначительное количество загрязняющего вещества, содержащиеся в органических веществах, включая полимеры, могут быть также обнаружено.

Технологически улучшенное управление - Автоматический подвод детектора и Механизм предупреждения столкновения с образцом
Функция авто подвола детектора измеряет высоту образца и автоматически регулирует расстояние между образцом и детектором, так что оператор может легко измерить образцы со сложными формами. В случае ручного управления, механизм предотвращения столкновения с образецом предотвращает повреждения прибора.

Элементы	Атомные поиера от 12 (Mg) до 92 (U) *Атомные номера при использовании He продувки от 11 (Na) до 92 (U)
Типы образцов	Твердые, порошки, жидкости
Рентгеновский источник	Рентгеновская трубка с возлушным охлаждением (W мишень) Напряжение: 15 кВ, 30 кВ, 40 кВ, 50 кВ Сила тока: от 20 доto 1000uA
Направление рентгеновского излучения	Сверху вниз
Детектор	Vortex Si полупроводниковый детектор (не требует жидкого азота)
Анализируемая площадь (размер луча)	квадратный 0.2мм, 0.5мм 1.2мм, 3мм Электронное переключение
Наблюдение образца	ПЗС камера высокго разрешения, 2 система
Камера	580 (Ш) x 450 (Г) х 150 (В) мм Точечный анализ и картирование на площади 250 (X) X 200 (Y) мм
Фильтр	6 режимов, автоматическое переключение
Управление	ПК и 19" LCD монитор
Функции картирования	Выравнивание с изображением образца, Отображение внутренней спектральной области, Интегрированная качественная функция
Качественные функции	Измерение спектра, Автоматическая идентификация, Дисплей сравнения
Количественные функции	Bulk CAL, Bulk FP, Film CAL, Film FP (фундаментальные параметры и калибровка для обычных материалов и пленок)
Обработка данных	Microsoft® Excel, Microsoft® Word
Функции безопасности	Замок крышки, Защита от повреждений, Само-диагностика
Электропитание (Блок питания в комплекте)	AC100В - 240В ±10%, 750ВА макс.