FT110 - Рентгено-флуоресцентный спекторметр для определения толщины покрытий (Hitachi)

FT110 - рентгено-флуоресцентный анализатор толщины покрытий. Новая функция автоматической фокусировки позволяет автоматически сфокусировать оптическое изображение образца в течение нескольких секунд. Таким образом, не требуется  обременительным ручная регулировка, в результате резко  увеличивается пропускная способность.

Особенности

Простая настройка
Оптическое изображение образца автоматически появляется на экране после того, как образец помещается в прибор на измерительную позицию..

Золотое (Au) покрытие толщиной 50 нм может быть точно измерено в течение 10 секунд
Оптимальная геометрия реализует высокую чувствительность даже при микро луче, что обеспечивает более высокую точность измерения с круглым 0,1 или 0,2 мм коллиматором.

Измерение без стандартного образца.
Измерение может быть сделано без стандартного образца(ов) толщины при помощи расширенния программного обеспечения FP. Измерение многослойной пленки и пленки из сплава может быть сделано легко.

Легкое позиционирование с помощбю Системы Широкого Обзора (Wide View System)
Новая Wide View System (опция), которая позволяет наблюдать весь образец изображение (макс. размер 250x200 мм), делает легкой настройку измерительной позиции.

Модель	FT110
Элементы	Атомные номера от 22(Ti) до 83(Bi)
Рентгеновский источник	Воздушно охлаждаемая маленькая рентгеновская трубка Напряжение: 50 кВ Сила тока: 1 мА
Детектор	Пропорциональный счетчик
Коллиматоры	круглые. 0.1 мм, 0.2 и два других типов
Наблюдение образца	CCD камера (с Wide View System)
Фокусировка изображения образца	Лазерная указка
Фильтр	Первичный фильтр автоматическое переключение
Столик образца (Размер столика) (Перемещение)	500(Ш) x 400(Г) x 150(В) мм X:250мм, Y:200мм
Контроллер	ПК с 19" LCD монитором
Программное обеспечение	Thin Film FP (Все типы тонких пленок: макс. 5 слоев, 10 элементов в слое), Calibration (Калибровка)
Обработка данные	Microsoft® Excel, Microsoft® Word
Функции безопасности	Замок крышки отделения для образца, Механизм предотвращения повреждения образца, Функция диагностики
Опции:
• Mapping software (Картирование) • Bulk FP method (Анализ компонентов материала) • Bulk Calibration method (Анализ расворов для нанесения покрытий)