ИК-Микроскоп IRT-7000 (JASCO)

Многоканальный ИК-микроскоп IRT-7000 (JASCO) сделан с применением самых последних научных достижений и обеспечивает высочайшую функциональность и самое максимальное качество аналитических результатов. ИК-Микроскоп IRT-7000 совместим с ИК-Фурье спектрометрами серий FT/IR 4000 и FT/IR 6000 фирмы Jasco. ИК-микроскоп IRT-7000 поставляется с двумя установленными детекторами - 16 канальным массивом для ИК-изображения объекта (IR-imaging) и MCT-детектором для регистрации спектра в точке.

Автоматический столик для образца, входящий в стандартную комплектацию, и функция "IQ Mapping" позволяют проводить картографирование образцов с большой площадью, НПВО-картографирование нескольких участков объекта, ИК-отображение поверхности образца с максимально высокими пространственным разрешением и чувствительностью за очень малый промежуток времени.

В комбинации с ИК-Фурье спектрометрами серий FT/IR 6000 и FT/IR 4000 фирмы JASCO и функцией ступенчатого сканирования данная система дает возможность проводить динамическое отображение части поверхности образца или делать кинетические измерения процессов на поверхности.

Возможности:

• Функция "IQ Mapping" дает возможность проведения улучшенного картографирования образца
• Быстрое картографирование поверхности образца
• До 4 объективов с автоматическим переключением
• Высокое качество наблюдаемой картинки
• Картографирование больших площадей и НПВО-картографирование нескольких участков объекта
• Динамическое отображение поверхности образца

Программное обеспечение Specta Manager II максимально автоматизирует и упрощает работу пользователя с ИК-микроскопом, сводя к минимуму операции ручной установки. Обработка данных включает двухмерную и трехмерную визуализацию химической информации со всеми стандартными функциями обработки спектральных данных.

• Дружественный графический интерфейс облегчает работу пользователя
• Функции Автофокус/автоподсветка
• Запись наиболее часто применяемых установок апертуры
• Автоматическое распознавание объективов ИК-микроскопа
• Дисплей миниатюр (запоминание позиций образца, фокусировки и информации апертуры)
• Предварительный просмотр спектра для проверки условий перед измерением
• Автоматическое формирование отчетов с использованием шаблонов