Рентгеновский дифрактометр EMMA (GBC Scientific Equipment)
Рентгено-фифрационный спектрометр EMMA

Рентгеновский дифрактометр EMMA (Enchanced Mini-Materials Analyzer - улучшенный анализатор мини-материалов) имеет компактные размеры и предлагает расширенные возможности пользователю. Параллельно-лучевая схема рентгеновского дифрактометра EMMA по сравнению с традиционными технологиями обеспечивает максимум интенсивности и существенную более надежную статистику по частицам. Высококачественная поликапиллярная оптика позволяет работать на малых углах, что предоставлет максимум возможностей при анализе тонких пленок.

Рентгеновский диффрактометр EMMA может также работать с "кругом Эйлера" - высокопроизводительным устройством, которым оснащаются обычно лишь наиболее  дорогие дорогие модели. Измерения до 155° 2 тета без потери фокустровки и искажения формы пика гарантируют высококачественное исследование остаточных напряжений.

Работа прибора и все его функции поддерживаются и контролируются 32-битным ПО, дающим широчайшие возможности в обработке и представлении данных.

Основными компонетами рентгеновского дифрактометра EMMA являются: пучок из параллельных лучей, фокусирующая схема, переменный радиус, блок детектирования, высококачественная оптика и много различных держателей образцов.
Все эти элементы предлагаются вместе с дифрактометром EMMA. Также дополнительно к прибору поставляются:

• 0-0 режим - для горизонтального размещения образца, необходимо для камер для образцов с высокой температурой и условиями отличными от окружающей среды.
• Новый микропроцессорный контроллер, позволяющий использовать 8 одновременных осей и коммуникацию по Ethernet. Дифрактометр EMMA имеет IP адрес в сети и им можно управлять с любого компьютера, подключенного к сети или интернету.
• Новые держатели образцов для больших, тяжелых, громоздких образцов в дополнение к крутящимся капиллярным вращателям и установочному оборудованию для выбора нескольких специальных держателей, доступных от PAAR.
• Новая оптика первичного луча, с конфокальным дифференцированным на ангстемы зеркалом для передачи и капиллярных режимов.
• Улучшенное ПО позволяет постоянно делать рекалибровку после  изменения компонентов для Visual XRD. Модуль записи, интегрирующий последние обновления ICDD базы данных PDF-2 и PDF-4+.

Много улучшений было сделано в детекторе  параллельных лучей для анализа тонких пленок, поверхностного анализа, глубокого профилирования и рефлектометрии, что дает очень низкую погрешность.

При использовании уникального твердотельного детектора с Si точечным диодом и термоэлектрическим охлаждением получаются  впечатляющие результаты. Этот детектор имеет в 3-4 раза лучшую чувствительность, чем традиционные  Xe пропорциональные детекторы с изогнутым графитовым кристаллическим монохроматором.
Для быстрого изменения режимов каждый держатель, оптика и датчик имеют свои собственные калибровочне и установочные конфигурации.